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在發(fā)展中求生存,不斷完善,以良好信譽(yù)和科學(xué)的管理促進(jìn)企業(yè)迅速發(fā)展鋰電池作為儲(chǔ)能技術(shù)的核心,其性能與安全性直接影響設(shè)備的使用體驗(yàn)。在電池生產(chǎn)、使用及維護(hù)過程中,鋰電池x-ray檢測設(shè)備通過無損成像技術(shù),成為提升鋰電池壽命的關(guān)鍵工具。??一、生產(chǎn)環(huán)節(jié)的缺陷篩查??鋰電池的電極結(jié)構(gòu)、隔膜完整性及極耳焊接質(zhì)量直接影響其循環(huán)壽命。鋰電池x-ray檢測設(shè)備可在生產(chǎn)階段對電芯內(nèi)部進(jìn)行高精度成像,識(shí)別極片對齊偏差、活性材料分布不均、隔膜破損或金屬異物等隱蔽缺陷。通過實(shí)時(shí)剔除不合格產(chǎn)品,避免因內(nèi)部結(jié)構(gòu)問題導(dǎo)致局部過熱、析鋰或短路,從源頭減少壽命損耗。??二...
查看詳情在半導(dǎo)體制造領(lǐng)域,封裝測試是保證芯片可靠性和性能的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。隨著半導(dǎo)體工藝向更小尺寸、更高集成度發(fā)展,傳統(tǒng)檢測手段難以滿足微觀缺陷的識(shí)別需求。半導(dǎo)體x射線檢測設(shè)備憑借其無損、高靈敏度和穿透性優(yōu)勢,成為封裝檢測的核心技術(shù)工具,在提升產(chǎn)品良率、保障芯片可靠性方面發(fā)揮著重要的作用。??一、解決封裝內(nèi)部缺陷檢測難題??半導(dǎo)體封裝過程涉及引線鍵合、模塑成型、芯片互聯(lián)等復(fù)雜工藝,易產(chǎn)生空洞、裂紋、異物、焊線偏移等微觀缺陷。這些缺陷若未及時(shí)發(fā)現(xiàn),可能導(dǎo)致芯片散熱不良、電氣連接失效或機(jī)械強(qiáng)度...
查看詳情工業(yè)X射線檢測設(shè)備是無損檢測領(lǐng)域的核心工具之一,其利用X射線的穿透特性,可在不破壞被檢物體的前提下,檢測內(nèi)部缺陷或結(jié)構(gòu)形態(tài)。該技術(shù)憑借高靈敏度與精準(zhǔn)性,廣泛應(yīng)用于制造業(yè)、航空航天、電子行業(yè)等領(lǐng)域。??一、工作原理??工業(yè)X射線檢測設(shè)備通過X射線管產(chǎn)生高能電磁波,其穿透物質(zhì)時(shí),因物體內(nèi)部密度和厚度的差異,吸收程度不同,導(dǎo)致透射后的X射線強(qiáng)度發(fā)生變化。這種強(qiáng)度的衰減經(jīng)探測器捕捉后,轉(zhuǎn)化為數(shù)字信號(hào)并形成圖像。密度較高的區(qū)域會(huì)吸收更多射線,在圖像中呈現(xiàn)為較暗區(qū)域;而低密度區(qū)域則顯得明...
查看詳情工業(yè)X-ray檢測設(shè)備在無損檢測領(lǐng)域發(fā)揮著至關(guān)重要的作用。正確的操作與精心的維護(hù),是確保其性能穩(wěn)定、檢測結(jié)果準(zhǔn)確的關(guān)鍵。??一、操作攻略??操作前,需接受培訓(xùn),熟悉設(shè)備的基本原理和安全注意事項(xiàng)。檢查設(shè)備的各項(xiàng)連接是否穩(wěn)固,確保環(huán)境符合要求。開啟設(shè)備后,要進(jìn)行預(yù)熱,讓設(shè)備進(jìn)入穩(wěn)定工作狀態(tài)。在放置檢測樣品時(shí),要確保位置準(zhǔn)確,固定牢固,避免在檢測過程中發(fā)生移動(dòng)影響結(jié)果。設(shè)置合適的曝光參數(shù),根據(jù)樣品的材質(zhì)、厚度等因素進(jìn)行合理調(diào)整,以獲取清晰的圖像。操作過程中,密切關(guān)注設(shè)備運(yùn)行狀態(tài),注...
查看詳情臺(tái)式電鏡作為一種微觀觀測工具,在材料科學(xué)、生物學(xué)、醫(yī)學(xué)等眾多領(lǐng)域發(fā)揮著重要作用。為了獲得高質(zhì)量的圖像和準(zhǔn)確的分析結(jié)果,掌握正確的操作技巧以及樣品制備方法是至關(guān)重要的。一、臺(tái)式電鏡的操作技巧(一)開機(jī)與關(guān)機(jī)操作?開機(jī)前準(zhǔn)備檢查儀器連接:確保電鏡的電源線、真空系統(tǒng)連接等均正常,無松動(dòng)或損壞現(xiàn)象。環(huán)境檢查:確認(rèn)實(shí)驗(yàn)室環(huán)境溫度、濕度在規(guī)定范圍內(nèi)。?開機(jī)步驟打開總電源開關(guān),啟動(dòng)真空系統(tǒng)。等待真空系統(tǒng)達(dá)到預(yù)設(shè)的真空度,這一過程可能需要數(shù)分鐘至數(shù)十分鐘不等,具體時(shí)間取決于電鏡型號(hào)和環(huán)境條件...
查看詳情進(jìn)口臺(tái)式掃描電鏡以其小巧的體積、高分辨率和易于操作等特點(diǎn),在材料科學(xué)、生物學(xué)、礦物學(xué)等眾多領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用。一、樣品制備(一)塊狀樣品?表面處理對于硬度較高的金屬、陶瓷等塊狀樣品,先要用砂紙從粗到細(xì)逐步打磨表面,以獲得平整光滑的表面。打磨后,可以用拋光膏對樣品表面進(jìn)行拋光處理,去除打磨痕跡,使表面粗糙度達(dá)到納米級(jí)水平。對于軟質(zhì)塊狀樣品,需要采用特殊的打磨工具和試劑。?導(dǎo)電性處理(針對非導(dǎo)電樣品)?膠帶、塑料等非導(dǎo)電樣品在進(jìn)行SEM觀察前,通常需要進(jìn)行導(dǎo)電處理。金屬膜可以采用...
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